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  • BSD-PSM多孔碳比表面孔徑測(cè)定
    BSD-PSM多孔碳比表面孔徑測(cè)定

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    多孔碳比表面孔徑測(cè)定,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM比表面孔徑測(cè)定儀
    BSD-PSM比表面孔徑測(cè)定儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

    瀏覽量:1232

    比表面孔徑測(cè)定儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM導(dǎo)電炭黑比表面孔徑測(cè)試
    BSD-PSM導(dǎo)電炭黑比表面孔徑測(cè)試

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    導(dǎo)電炭黑比表面孔徑測(cè)試,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM炭黑比表面孔徑測(cè)試儀
    BSD-PSM炭黑比表面孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    炭黑比表面孔徑測(cè)試儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSM納米管比表面孔徑分析
    BSD-PSM納米管比表面孔徑分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PSM

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    納米管比表面孔徑分析,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • 沸石比表面孔徑分析儀
    沸石比表面孔徑分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):

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    沸石比表面孔徑分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-660MOFs高性能比表面積及孔徑分析儀
    BSD-660MOFs高性能比表面積及孔徑分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-660

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    MOFs高性能比表面積及孔徑分析儀,測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-660全自動(dòng)高通量 比表面積及孔徑分析儀
    BSD-660全自動(dòng)高通量 比表面積及孔徑分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-660

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    全自動(dòng)高通量 比表面積及孔徑分析儀測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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